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结构测试及模态分析系统

结构测试系统

结构测试系统 系统组成:长行程低频激振器,超高频振动激振器,功率放大器,振动控制仪,低频标准传感器,低频测试传感器,高频测试传感器,高频标准传感器,控制及测试软件。 应用:微振动分析及研究,飞机机翼及太阳帆板等轻薄结构测试,地震分析,桥梁及建筑物等大结构测试;MEMS传感器芯片元器件等小结构的性能测试,疲劳试验寿命评估等。

DMA-Catalog-ST2020P(1)(1).pdf

详细介绍

低频

通道数:32通道输入,8通道输出

控制方式:正弦,随机,冲击,正弦加随机,时域信号叠加(Resonance),搜索和驻留

频率范围:正弦0.01Hz-95kHz,随机1-95kHz

冲击波形:半正弦,梯形,锯齿波,及其他用户定义波形

冲击脉宽:0.25ms...40ms

远程控制:DDL,Ethernet,VI或COM/DCOM

数据采集:实时数据采集,传输,记录,灵活的数据分析

典型系统组成:1)4通道控制4台APS400用于大结构模态分析,2)高频控制器配高频激振器SE-09做传感器或元器件的测试,3)定制方案生产线测试系统、数字传感器测试、3维激励

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